凌陽科技(Sunplus Technology)家庭平台事業群處長楊穎智表示，就當前行動應用(mobile applications)所需的系統晶片(SoC)來說，功耗是設計成功與否最關鍵的影響因素之一，因此為了能在晶片設計時一次即成功(first-pass silicon success)，如何有效地驗證低功耗的各項功能就變得非常重要，而這本低功耗驗證方法手冊提供了廣泛且可靠的技術說明，可協助簡化及加速驗證功耗管理(power-managed)設計所面對的各種複雜任務。

低功耗設計技術愈來愈複雜，而其驗證複雜度也更具挑戰，因此對於如何建立可被充分了解(well-understood)、健全(robust)及可重複使用(reusable)的驗證環境也就更顯得重要，低功耗驗證方法手冊記錄了一般常見造成低功耗錯誤程式的原因，為低功耗驗證提供規則和指導方針，並詳載SystemVerilog基礎程式庫(SystemVerilog base class library)以協助可重複使用之驗證環境的建造，同時還提供電路特性驗證(assertions)及驗證達成率技術(coverage techniques)等，以協助設計工程師達成各種功耗設計目標，及確保一次成功的晶片設計(first-pass silicon success)需求。

希捷科技(Seagate Technology)SOC功耗設計師David Wheelock表示：「要開發一個具功耗控制的設計不能只是符合紙上理論而已，它更需要具體可行的依據。不管是針對低功耗系統的設計或是驗證，此低功耗驗證方法手冊對於容易犯的錯誤以及各種實際狀況，都提供了一套清楚的見解與說明。這本實用的手冊還附有關於設計及驗證問題的具體實例，其規則及建議將協助整個電子產業邁向更環保的未來。」

海思半導體(HiSilicon) K3 LP部門表示：「低功耗驗證是低功耗設計所面臨的主要挑戰，而低功耗驗證方法手冊提供來自業界專家的最佳實務案例，協助建立一個針對低功耗的重複使用驗證環境。它能協助搜尋錯誤的低功耗設計，並在設計初期就能及早發現錯誤，不需等到晶片完成之後，可大幅節省光罩(mask)成本及設計除錯(debug)所需的時間。」

在低功耗驗證方法手冊中所闡述的方法論，能協助驗證團隊利用電路特性驗證(assertions)獲得驗證達成率的收斂(coverage closure)以及確切指出錯誤程式。它能透過具電壓偵測功能之靜態驗證工具(voltage-aware static)以及動態驗證工具如具備VCS®模擬器的MVSIM以及MVRC等進行實作，而這些工具都是新思科技Eclypse™低功耗解決方案中的一環。這些工具也可以協助檢查在低功耗驗證方法手冊一書中所提到的與低功耗設計相關的規則(rules)，進而建立一更具結構性以及可重複使用的驗證環境。

半導體科技學術研究中心(Semiconductor Technology Academic Research Center)研發一部副總裁暨總經理Nobuyuki Nishiguchi表示：「我們看到低功耗設計在日本的普遍應用，同時也觀察到對於複雜驗證方法的強烈需求。低功耗驗證方法手冊的推出正可以滿足當前市場的需求，它完整且簡潔的說明低功耗驗證所涉及的各個層面，這本書涵蓋了對於低功耗設計驗證所需的內容，幫助工程師在一開始就進入正確的設計方向。」

捷碼科技(Magma Design Automation)產品開發副總裁Ed Huijbregts博士表示: 「低功耗的需求可說為整個半導體產業帶來範例移轉(paradigm shift)，但因為欠缺一個開放、經過編纂且詳實記錄的方法論，使得正確以及綜合性的低功耗設計驗證困難重重，也因此代表著生產力的耗損。然而透過完整的方法學和指南式的入門導引，低功耗驗證方法手冊為低功耗設計的成功驗證提供了一個清楚的藍圖。」