首頁
雜誌導讀
學界新脈動
技術長對談
封面故事
AP封面故事
SST精選
AP精選
技術專文
特別報導
市場瞭望
科技新知
產業觀點
新品焦點
產業新聞
電子週報
線上影音
企業線上巡禮
線上研討會
技術白皮書
友好媒體
供應商名錄
產品櫥窗
聯絡我們
搜尋:
雜誌搜尋
僅搜索標題
搜索標題及內文
半導體科技
>
雜誌導讀
>
新品焦點
X-ray檢視系統
日期:2005/4/14 來源:
半導體科技
WBI-FOX符合200mm與300mm晶圓的自動化標準,擁有訂做的操控系統來避免人與晶圓接觸的介面,可調變的參數使其適用於特定的晶圓特性,且可總結檢視結果於預先定義的報告格式中。TXI操控裝置為即時檢視提供穩定的影像品質。
上一則
下一則
相關文章
X-ray檢視系統
(2005/4/14)
主頁
-
雜誌介紹
-
雜誌導讀
-
產業新聞
-
研討會
-
供應商
-
產品
-
會員註冊
ACEsuppliers (B2B) 國際站
-
王牌供應網(B2B)
-
關於我們
-
ACE期刊
-
線上投稿
-
聯絡我們
Copyright© 1999-2009 亞格數位股份有限公司版權所有
非經本公司同意不得將全部或部分內容轉載於任何形式之媒體