泰瑞達(Teradyne) 推出D750Ex 高密度 LCD 驅動IC測試系統 |
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2008/4/21
Teradyne 為提供經濟、高效率測試方式的世界級領導廠商，並宣布推出最新的 D750Ex萾 LCD 驅動IC測試系統 (D750Ex萾 LCD Driver Test System)。D750Ex 專門設計用以測試高解析度 LCD 驅動器IC。奇景光電 (Himax Technologies Limited) 為位於台灣的無晶圓 驅動IC設計廠商，採用本系統測試其下一代的大尺寸驅動器與手機驅動IC。奇景光電目前使用 D750Ex 進行生產。 先前 J750 平台的表現相當成功，已在全球有超過 2600 台的系統裝機量，而此次D750Ex 即以原J750 平台作為基礎。
奇景光電的業務包括設計、開發、行銷對平面顯示器至為關鍵的半導體產品。奇景光電的技術長 蔡志忠表示：「我們選擇了 D750Ex 是因為這套系統生產效能高、體積小，非常能符合我們在生產、產品上市以及測試成本方面的需求。D750Ex 的彈性轉換功能讓我們不但可以測試 LCD 驅動IC，也能於同一平台上測試邏輯設備。」
市場調查公司iSuppli Corp 的顯示器部門副總裁Paul Semenza 表示：「我們預期接下來幾年消費者對於高解析度電視、電腦螢幕、和手持設備的需求，將急速推動 TFT-LCD 半導體的市場。iSuppli 預測 2008 年 LCD 驅動IC的單位成長量將達15.1 %，同時也估計隨著全球需求上揚的趨勢，驅動IC的數量會從去年的 69 億成長到 2010 年的99 億。」
D750Ex 系統確實提供了一個每腳端(Pin)高密度資源的架構，可支援整體程式超過 97% 的平行測試效率。D750Ex 也同時具備嵌入式 DSP 與中央式 DSP 的架構，可增加處理效能。此系統的體積很小，與必須同時使用大型電腦櫃和測試頭的競爭對手系統相較，所需的空間減少了 50-85%。
D750Ex採用一萬用介面埠 (Universal Slot) 的架構，可根據設備測試需求將多種類型設備放置於同一系統中。D750Ex 也提供了記憶體測試選項 (Memory Test Option, MTO)，無須額外的埠即可在一次完成測試行動驅動IC。在競爭對手的系統上，行動設備必須於兩個平台上測試，一個平台測試 LCD，另一個平台測試記憶體。D750Ex 適用於各通道的「任一腳端」架構，大幅簡化了探針卡的設計，也使得多點測試的開發環境更為彈性。
Teradyne LCD 驅動IC業務部的總經理 George Rose表示：「LCD 驅動器的市場主要由各種消費者產品來推動，大至平面電視和電腦螢幕，小至行動電話等產品。消費者對這些產品的品質、複雜度等要求越來越高，因此用來測試這些產品驅動IC的方法也必須越來越好。抱著這樣的想法，我們與 LCD 驅動器技術中具備領導地位的奇景光電合作，以幫助我們開發 D750Ex 高密度架構，找出這個市場中最重要的測試方法。」
Rose 繼續說明：「LCD 驅動器市場對於成本相當敏感，我們打造 D750Ex 的時候，將 J750 的成本優勢與明顯的特色都延續下來了，如體積小、產能大、擁有成本低等等。我們還擴張了 D750Ex 的腳端密度與設定彈性，讓我們得以提供 LCD 驅動器IC 製造商更具成本效益的解決方案，將他們的成功更往上推進一步。」
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