使用偏好:
   LED照明市場持續擴張 (2015/7/27)
以機器學習為基礎的進階分析法,提供有效的方法進行異常排除,可突破傳統半導體製程的良率和缺陷率。在過去幾十年裡,從半導體生產流程裡收集到的資料量持續增加。隨著在實驗室裡配備的檢測器數量大幅增加,現在業界要面對的挑戰是該如何去分析隨之而來巨大的資料!資料本身沒有作用,除非你把它轉會成能利用的資訊來使工廠提升產能與品質。同時,產品與製程的複雜性已經需要適用新方法,利用數千個變數分析龐
目前在影像感測器模組測試上,再也不需因為一堆縮寫(acronyms),測試設備(test equipment),以及圖表(charts),而感到困惑。只需有清楚的目標和一些技術竅門作輔助,如此便可將繁雜的工作簡化成少許的一些主要步驟(key steps),例如:材料選擇(material selection)、電性設定(electrical set-up),以及模組品質測量(m